非接觸式熱物性（熱擴散率）測量裝置 TA35型的原理分析

發布日期：2024-09-04      瀏覽次數：862

非接觸式熱物性（熱擴散率）測量裝置 TA35型的原理分析




• 熱物性測量裝置 熱波分析儀

• TA35型



[特點]
　?非接觸式測量，不受接觸（熱）電阻的影響
　?測量范圍寬～從有機薄膜到金剛石?
　?單個裝置可測量水平（XY）和垂直（Z）方向
　?垂直（Z ））方向映射測量








測量原理

 　　

(1) 周期性加熱源 (P0eiωt) 以熱擴散率 α 對樣品表面進行點加熱
(2) 加熱點溫度的交流分量表示為 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加熱源。 (P0eiωt) 置于周圍區域，激發溫度傳播可以用以下公式表示。



(4) c：單位體積比熱容，?：距點熱源的距離
　　k 為溫度波的波數，用下式表示：



(5) 式中μ為熱擴散長度。因此，相位變為以下等式。






特征

范圍 涵蓋廣泛的測量范圍 - 從有機薄膜到鉆石 -



 

 

靈活的形狀 無論樣品形狀如何，都可以進行測量！

～可以測量任何形狀的樣品，圓形、方形、三角形～

熱波分析儀 TA 可滿足客戶開發現場的需求。



由于無需將測量樣品的形狀與設備相匹配，因此可以顯著減少樣品制備的工作量和成本。

 

 

安全簡單的操作 操作簡單，只需將樣品放置在電腦上即可操作



 

 

各向異性評估 可在 XYZ 方向連續測量 ~ 用于評估具有各向異性的材料 ~

垂直測量/水平測量



<應用>

• 電子元件散熱材料的評價

• 半導體激光電極的評價

• 發熱材料的評價

• 硬質合金工具涂層的評價等

 

你了解各向異性嗎？樹脂與各種填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的復合材料的熱導率
根據混合比例的不同而發生很大變化，因此測量熱擴散率非常重要。
該設備可以對同一工件和樣品同時進行三個方向（X、Y和Z）的連續測量，非常適合測量想要了解各向異性的樣品。 可用于
測量電子電路中使用的散熱片、碳纖維增強樹脂、高熱電樹脂、聚酰亞胺片等各種樣品。


 

測量示例

電子元件與TIM材料之間的附著力評估

測量目標 測量結果

　　　

層壓材料是由具有不同導熱系數的材料分層制成的，因此預計傳熱將根據粘合的均勻性而發生很大變化。
然而，傳統上精確測量層壓材料的導熱率極其困難，這使其成為開發過程中的問題之一。
該裝置連續獲取并繪制垂直相位延遲，從而可以相對評估層壓材料的熱傳導。
它不僅適用于材料熱物理性質的相對評估，而且適用于檢查零件的缺陷和檢查均勻性。

 

 

電子元件的形狀評價

測量目標 測量結果

　　

熱導率分布評價（定性值） *可以將熱導率的均勻程度繪制成圖表。

陣容