日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1

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更新日期：2025-03-11

簡要描述：

日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1
微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測量階段來調(diào)節(jié)40-400μm。*這是一種用于細顆粒的自動壓縮測試設備。當粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強度時，該設備可測量峰負荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。

詳細介紹

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日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1

微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測量階段來調(diào)節(jié)40-400μm。*這是一種用于細顆粒的自動壓縮測試設備。當粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強度時，該設備可測量峰負荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。通過從測量結(jié)果中選擇任何粒子，您可以看到具有負載位移曲線和連續(xù)圖像的斷裂過程。

*根據(jù)規(guī)格，目標顆粒直徑可能為40-120μm或50-400μm。
　對于粒子測量200-1500μm，可以使用更好的硬度測試儀BHT-1000（全自動粉末和谷物壓縮測試儀）。

日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1

規(guī)格

規(guī)范列表	MHT-1	MHT-1W（高分辨率）
測量方法	恒定加載方法
測量項目	高度顆粒直徑，峰負荷，位移，壓碎強度，破裂強度，變形強度
靶顆粒直徑	50-400μm （手動測量1毫米） *需要階段變化	40-120μm
下降速度	從1.0到10μm/sec中選擇	從0.01到10μm/sec
測量的顆粒數(shù)	每個樣品最多500片
負載電池測試能力	1N（最小顯示0.01MN）也可以更改為5N，10N和20N （可選）	1N（最小顯示0.01mn） 5N也可以更改（可選）
相機	從CMOS USB攝像機選擇： 480 x 270，130,000像素，640 x 360，230,000像素，960 x 540，520,000像素， 1920 x 1080，207億像素
身體尺寸	W450 x D460 x H400毫米 *包括突起
體重	約25公斤	約26公斤
公用事業(yè)	AC100V 50/60Hz 2a
其他的	縮進器：φ0.45mm直徑直（前端表面處理） LED燈，防塵蓋，校準銅

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